分子構造解析部 機器詳細

固体サンプルにX線（管球 Cu線源）を照射し、その回折パターンを測定することができる。100mgから１g 程度のサンプルで測定可能で、岩石の成分分析や、単結晶構造が明らかになったサンプルのバルク構造の確認などに利用できる。