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微小結晶用単結晶構造解析装置(低温測定)
分子構造解析部 機器詳細
微小結晶用単結晶構造解析装置(低温測定)
管理番号:37
メーカー:リガク
機器区分:X線構造解析装置
利用者区分:区分なし
概要
単結晶にX線を照射し、その回折パターンを解析することで分子構造を決定することができる。0.2mm程度の単結晶があれば測定可能で、低温測定が可能。構造が未知の化合物でも、単結晶を得ることができれば、その三次元構造の決定が可能となる。
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