分子構造解析部 機器詳細
超分子集合体 X 線構造解析装置
- 管理番号：09
- メーカー：リガク
- モデル番号：RA-Micro7HFM， NANO-Viewer， R-axisIV++ など
- 機器区分：X線構造解析装置
- 設置場所：総合研究棟(大谷) 205 室
- 利用者区分：区分なし
概要
[測定原理]
試料に X 線を当てると物質の構造を反映して X 線の散乱・回折が起こる。 これを観測して物質の構造を調べることができる。 小角散乱（回折）法では角度が数度以下の散乱（回折）を観測し、数百 nm から数 nm の構造情報を得られる。 広角散乱（回折）法では数 nm 以下の構造情報が得ることができる。 タンパク質結晶構造解析では、タンパク質の単結晶を回転させながら、数多くの回折を測定することにより、原子分解能の構造を得ることが可能である。
試料に X 線を当てると物質の構造を反映して X 線の散乱・回折が起こる。 これを観測して物質の構造を調べることができる。 小角散乱（回折）法では角度が数度以下の散乱（回折）を観測し、数百 nm から数 nm の構造情報を得られる。 広角散乱（回折）法では数 nm 以下の構造情報が得ることができる。 タンパク質結晶構造解析では、タンパク質の単結晶を回転させながら、数多くの回折を測定することにより、原子分解能の構造を得ることが可能である。
仕様
[測定装置]
本装置では一つの発生器からの X 線を用いて、小角測定とタンパク質結晶構造解析を含む広角測定を測定できる。 発生器のターゲットには銅を用いており、その Kα線を用いるために光学系が最適化されている。 小角測定部の光学系には多層膜ミラーおよび 3 スリットを用いてる。 またカメラ長は段階的に可変で最大 800mm となっている。 検出器にはフォトンカウンティング型の半導体 2 次元検出器を用いており、微弱な信号でも精度よく計測できる。 広角測定部は一般の試料のほか、試料設置部にゴニオメーターを備えているためタンパク質結晶構造解析にも対応している。 またイメージングプレート検出器の検出面積は 300mm × 300mm となり、一度に広い領域の測定が可能である。
本装置では一つの発生器からの X 線を用いて、小角測定とタンパク質結晶構造解析を含む広角測定を測定できる。 発生器のターゲットには銅を用いており、その Kα線を用いるために光学系が最適化されている。 小角測定部の光学系には多層膜ミラーおよび 3 スリットを用いてる。 またカメラ長は段階的に可変で最大 800mm となっている。 検出器にはフォトンカウンティング型の半導体 2 次元検出器を用いており、微弱な信号でも精度よく計測できる。 広角測定部は一般の試料のほか、試料設置部にゴニオメーターを備えているためタンパク質結晶構造解析にも対応している。 またイメージングプレート検出器の検出面積は 300mm × 300mm となり、一度に広い領域の測定が可能である。
[測定方法]
試料はキャピラリーや溶液セルに封入して X 線を照射し測定を行う。 安定な固体試料の場合は封入せずに測定を行うことも可能である。
試料はキャピラリーや溶液セルに封入して X 線を照射し測定を行う。 安定な固体試料の場合は封入せずに測定を行うことも可能である。
[応用]
本装置により、高分子・タンパク質・脂質など様々な物質の超分子集合体の構造を多角的に調べることが出来る。 また加熱・冷却システムも備えており、試料条件を変更しながらの測定も可能である。
本装置により、高分子・タンパク質・脂質など様々な物質の超分子集合体の構造を多角的に調べることが出来る。 また加熱・冷却システムも備えており、試料条件を変更しながらの測定も可能である。