総合研究棟 機器リスト

管理番号
[15]
機器名
単結晶用 X 線回折装置
メーカー
リガク
モデル番号
AFC-6R
機器区分
X線構造解析装置
設置場所
総合研究棟(大谷) 222 室
利用者区分
区分なし

概要

[測定原理] X 線ビームを単結晶サンプルに照射すると、単結晶中に規則正しく配列した原子によって X 線の散乱が起こることが知られている。 これらの散乱された X 線の散乱方向と強度を詳細に解析することにより、単結晶中の原子の種類とその立体配置を 0.001A という高い精度で決定することができる。 本装置は、X 線の照射部(管球)と検出器、及びそれらのデータを解析するパーソナルコンピューターから構成されている。 単結晶はゴニオヘッドと呼ばれる駆動装置に固定され、上下左右のあらゆる方向に回転させることが可能となっている。 あらゆる方向から X 線を照射し、その散乱 X 線を測定することにより、精度の高い解析を行うように設計されている。
 
[測定方法] ガラスファイバーに固定された単結晶をゴニオヘッドに固定する。 X 線ビームをこの単結晶に照射させ、散乱 X 線を検出する。 一連の操作は全てパーソナルコンピューターを通して行われる。
 
[応用] これまでに開発されてきた分子の構造を決定する方法で、本装置は高い精度でその測定を行うことができる。 新しく合成した機能性物質の詳細な立体構造の決定を通して、それらの化合物が示す機能の解明を分子レベルで検討することが可能となる。

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